1月16日，合肥谱睿源智能制造有限公司于国科军通创新产业园成功举办在线 3D-X 射线检测设备发布会，向业界全面展示其在半导体检测领域的最新技术突破，为半导体检测技术的发展注入强劲动力。
发布会于下午 2 时准时启幕，半导体检测、智能制造等多领域的专家、客户、企业代表及媒体人士纷纷到场，现场气氛热烈非凡，各界对谱睿源新技术的关注与期待溢于言表。
科大硅谷合伙人生态中心副总经理徐远先生作为特邀嘉宾出席本次发布会。会上，徐远先生分享了科大硅谷平台能够助力谱睿源发展的全方位举措，希望谱睿源以此次AI-300设备发布为新的起点，继续秉承创新精神，进一步加强技术研发，推动更多具有自主知识产权和国际竞争力的技术与产品走向市场。
随后，谱睿源创始人吴明炜先生以一首慷慨激昂的《观沧海》开启主题演讲，展现了他对科技创新的无限热忱与执着追求。他援引杜甫《望岳》中的诗句，强调谱睿源将始终秉持不畏艰难、勇攀科技巅峰的精神，为半导体检测领域持续贡献创新力量。吴先生激情澎湃的演讲，赢得现场观众的阵阵掌声。
紧接着，谱睿源技术总监杨斌先生对全新升级AI-300设备进行了详细地介绍。通过生动讲解与现场产品演示，向在场嘉宾展示了该设备在产品升级的六大亮点以及检测精度方面的卓越表现。值得一提的是，AI - 300 设备运用了谱睿源国内首创的 3D 层析融合技术，将先进的 3D 成像与 X 射线检测技术完美融合，能够快速且精准地探测出半导体及各类电子元器件存在的缺陷与质量问题，为全球电子装配及半导体封测行业的生产商提供了测试解决方案。
此次发布会的圆满举办，不仅是谱睿源在半导体检测领域最新技术成果的精彩呈现，更彰显了其在科技创新方面的雄厚实力与坚定决心。展望未来，谱睿源将持续秉承创新精神，不断勇攀科技高峰，为半导体检测领域的发展贡献更多智慧与力量。
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